2.5D光度立体线扫系统
一次性扫描后光源通过四个不同角度投射到缺陷部位生成四张图像，通过算法快速合成三张用于检测的图形。
可有效克服反光、环境光干扰，捕捉细微狭小的缺陷，如脏污、凹凸、破损、划伤等。
金属表面划痕、凹凸等缺陷
高反光特性影响缺陷检测
去除反光影响以及背景杂乱的影响，有效检出微小缺陷
使用光度立体线扫系统，可以消除环境的干扰只获得细微缺陷的信息。0
最快运行速度可达800mm/s
原图
预处理图
原图
预处理图
角度1
角度2
角度3
角度4
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